1、比对仪：用比对仪测量工件采用何种测量方法，有什么特点

比对仪属于比较测量法（间接测量法）和接触测量法。例如，用块规组成直径尺寸，用千分表调零，然后用千分表测量轴的直径，通过读数的差异确定直径值。测量力是千分表的“压力表”力。百分表可安装在高度游标卡尺上，测量操作可在平板上完成。比对仪

1、比较器：比较器的光学比较器雷尼绍测针

使用光学千分尺作为放大指示部分。常见的有竖式、横式和阴影式三种。雷尼绍测针

雷尼绍测针①立式光学比较仪：又称立式光学计，图3【光学测微计的光学系统】为光学测微计的光学系统。它是根据自准直原理设计的（见自准直仪）。分划板位于物镜焦平面上，根据杠杆原理设置平面镜。当测量杆上下移动时，平面镜绕支点旋转一个小角度，平面镜反射的光线通过直角棱镜后，分划板上的刻度图像发生偏移。偏移量的大小与测量杆的距离成正比。光学千分尺的分度值为1微米，指示范围为0、1毫米。立式光学计适用于测量室，测量范围为0毫米至毫米。常用于检测定量块和光规，测量工件的外径和厚度。雷尼绍对刀仪

②水平光度计：又称水平光度计。其工作原理与立式光度计相同。测量范围为0～mm。适用于在测量室或立式光学计上测量较大的。对于圆盘等不易定位的工件，常使用测孔附件来测量孔径。雷尼绍对刀仪

③影屏光学比较仪：又称投影测光仪，其光学系统与立式测光仪类似，但标尺图像经投影放大镜放大后成像在影屏上。分度值为1微米、0、2微米等。分度值为0、2微米的光学系统利用多次反射来增加光学杠杆的放大倍率。此外，还有光波干涉法测量的接触干涉比较器，分度值为0、05微米、0、1微米、0、2微米。雷尼绍对刀仪